凈化潔凈廠房表面粒子潔凈度測量方法和設(shè)備

凈化潔凈廠房表面粒子潔凈度的測量方法須根據(jù)測量對象的各方面要求及現(xiàn)場狀況等多種因素，全面權(quán)衡后選取結(jié)果可信、功效好的測量方法和設(shè)備。以下簡要介紹幾種常用的方法、設(shè)備及其優(yōu)缺點。

1.光學(xué)顯微鏡

光學(xué)顯微鏡既經(jīng)濟，應(yīng)用范圍也廣。光學(xué)顯微鏡是按被觀測對象的吸光性、光折射性或雙折射性等光學(xué)特性，或按觀測對象的形狀、尺度等確定其作為污染物的特性。粒徑1.0μm以上的粒子可在固體樣本上或液體樣本中檢測到。采集表面粒子樣本，可參考《航天流體中和元件上的粒子采樣標準》ASTM F 303-08 (Standard Practice for Sampling for Particles in Aerospace Fluids and Components)，并按ASTM F 312-08的方法進行分析。如粒子與所附著表面的對比度不夠，可利用暗場照明來改善觀察效果。通過顯微鏡觀測，只可給出定性結(jié)果，如果要求較嚴格，可配置自動采樣和自動圖像分析裝置檢驗樣本，取得具體的數(shù)值，以作為表面粒子潔凈度級別的依據(jù)。

2.斜光、掠光和側(cè)光照相測量系統(tǒng)

使用具備所要求放大倍率的數(shù)碼相機，在特定光源下對采樣表面照相，根據(jù)所獲圖像來測算表面存在的污染粒子狀況。通常采用平行光斜入被測表面，使表面自身結(jié)構(gòu)僅只有很少量光線被表面散射并進入相機，而表面上的粒子會被入射的斜光所完全照亮，并產(chǎn)生相應(yīng)量的散射光，在相機圖像中被測表面呈暗色，而粒子形成大大小小的亮點。與使用光學(xué)顯微鏡類似，可依據(jù)照相圖片，用簡單的圖像分析算法來分析表面粒子的狀態(tài)。

3電子掃描顯微鏡

如果光學(xué)顯微系統(tǒng)的分辨率無法滿足要求，被測表面又較粗糙時，可采用電子掃描顯微鏡(SEM，Scanning Electron Microscope)，但SEM在高放大倍數(shù)時的景深小，表面過于粗糙時，將超過光學(xué)顯微系統(tǒng)的限度。

另外SEM難以檢驗非導(dǎo)電表面。因為當表面遭受電子掃描顯微鏡運行時發(fā)出的電子束轟擊時可能帶電，從而使圖像變形。為避免此現(xiàn)象，通常應(yīng)先在非導(dǎo)電表面濺射一層金屬薄膜使其導(dǎo)電。而此方法又存在可能改變表面現(xiàn)有狀態(tài)的不利情況，電子束可能使表面上的粒子帶電，并被驅(qū)離表面。

因為進行測試時，需要將被測表面或部件置于高真空中，所以還要注意防止被測部件在真空中不會改變。中凈環(huán)球凈化可提供凈化車間、潔凈廠房的咨詢、規(guī)劃、設(shè)計、施工、安裝改造等配套服務(wù)。

4.散射光表面掃描裝置

散射光掃描儀適用于檢驗表面平滑、粗糙度低的表面，如硅晶片、玻璃等。該儀器聚焦的激光以規(guī)定的光束角掃描部件表面，從光滑表面直接反射回的光被導(dǎo)入并消失。而表面附著粒子將引起激光的漫散射，散射光被光電倍增器放大并記錄。依據(jù)檢測到的各個散射光強度和大小，經(jīng)電子器件分析，可得出粒子的粒徑和形狀。當激光的實際位置與散射光同步時，可確定表面粒子的分布情況，散射光掃描儀探測粒徑的限值一般為0.05μm以上。

5.激光粒子計數(shù)裝置

這是凈化潔凈廠房常常使用的儀器裝置之一。吸引表面被剝離粒子的介質(zhì)，如空氣、氣體或液體，當使其流過粒子計數(shù)設(shè)備的激光束時，介質(zhì)中所攜帶的粒子就會產(chǎn)生散射光，根據(jù)散射光的強弱所觸發(fā)的光脈沖大小，與用圓形乳膠標準粒子所得的光脈沖標準曲線比對，就可得到這些粒子的粒徑。這種“粒徑”實際上是粒子散射光脈沖強度的標識。

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